Настройка и управление настройками сложного испытательного оборудования для тестирования и характеристики кремниевого устройства

На этом вебинаре мы рассмотрим эффективные, точные и масштабируемые методы для аналогового и смешанного тестирования устройств с использованием реконфигурируемых испытательных настройков. По мере того, как полупроводниковые устройства становятся более сложными, инженеры сталкиваются с проблемой проверки производительности и уловов краев в условиях жестких графиков. Настройки тестов часто включают осциллографы, генераторы сигналов, сетевые анализаторы и многое другое, потенциально от разных поставщиков с уникальными соображениями автоматизации и конфигурации. Чтобы идти в ногу с требованиями к проверке полупроводников, многоканальные настройки тестирования, предназначенные для гибкости и производительности, могут помочь инженерам эффективно масштабироваться.

Ключевые знания:

• Уменьшение сложности пути сигнала с помощью нескольких интегрированных инструментов
• Улучшение верности данных при измерении ответа на смешанную сигнализацию
• Построение эффективных параллельных настройки тестирования для увеличения пропускной способности
• Настройка примеров настройки тестов для общих полупроводниковых проверки проверки